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專注于半導體電性能測試

PL系列窄脈沖電流源測試原理及LIV測試框圖

來源:admin 時間:2020-10-09 09:52 瀏覽量:2298

普賽斯PL 系列窄脈沖電流源可應用于 VCSEL 及其它需要窄脈沖激勵的測試場景。

PL 系列設備有兩個通道:

① 、恒流脈沖激勵源,并能同步測量待測器件的兩端電壓;

② 、脈沖電流測量通道,特別適用于采用外置PD 的方式測量脈沖光功率;

PL 系列設備能輸出以下幾種波形:波形的幅度、步進值、脈沖個數(shù)等均可程控。

① 、直流恒流;

② 、直流掃描電流;

③ 、脈沖直流電流;

④ 、脈沖掃描電流;

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使用普賽斯PL 系列窄脈沖LIV測試系統(tǒng)進行測試框圖如下:主要有 PL 系列設備、專用連接線、測試板、積分球、待測激光器、光接收 PD 組成。 VCSEL 激光器一般輸出光功率很大,而 PD 的接收功率較小,需要使用積分器進行光功率的衰減,同時積分球的反射特性使激光器系統(tǒng)對激光器光入射角并不是非常敏感。

設備輸出有以下幾個信號:LD+ 、 LD- 、 S+ 、 S- 、 PD+ 、 PD- ,其中 LD+ 、 LD- 為恒流源輸出激勵信號, S+ 、 S- 為待測器件電壓測量信號, PD+ 、 PD- 為外置 PD 測量信號。

為保證信號輸出質量,PL 系列設備需要使用普賽斯定制的特殊連接線,同時從測試板到待測器件要盡量減少連線,最好直接將器件焊接于測試板上或使用 socket 。

為保證待測器件電壓測量的準確性,S+ 、 S- 需要在待測器件引腳上短接至 LD+ 、 LD- ,請務必將 S+ 、 S- 連接至待測器件引腳上,切勿直接在測試板上隨意短接。

 

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